【產(chǎn)品名稱】

晶彩科技 – 8吋至12吋 Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動(dòng)AI光學(xué)檢測(cè)機(jī))

【設(shè)備規(guī)格與特色】

配備8"/12" LoadPort，支持Open Cassette、FOUP、FOSB等不同晶圓傳送形式。

具備AI實(shí)時(shí)缺陷檢測(cè)功能，實(shí)現(xiàn)即拍即檢即分類，提升檢測(cè)效率。

支持KLARF文件格式，可進(jìn)行晶圓分區(qū)、分Die、以及Defect size & type分析，提供完整清楚的檢測(cè)結(jié)果。

高速自動(dòng)缺陷拍照，確保制程檢查中不遺漏微小缺陷。

采用BF+DF光源設(shè)計(jì)，提供優(yōu)越的光學(xué)成像效果，更能有效區(qū)分不同缺陷類型。

可檢測(cè)Minimize缺陷尺寸：0.4微米(μm)，實(shí)現(xiàn)高靈敏度檢測(cè)。

支持SECSGEM200/300標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)高度自動(dòng)化的工廠設(shè)備整合。

晶彩科技的8"-12" Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動(dòng)AI光學(xué)檢測(cè)機(jī))，LoadPort搭載檢測(cè)系統(tǒng)展現(xiàn)卓越的功能與性能，不僅提供靈活多樣的晶圓傳送形式，擁有AI實(shí)時(shí)缺陷檢測(cè)功能，實(shí)現(xiàn)即拍即檢即分類，使檢測(cè)過(guò)程更為高效。機(jī)臺(tái)更支持KLARF文件格式的特性使得機(jī)臺(tái)能夠進(jìn)行晶圓分區(qū)、分Die、以及Defect size & type分析，提供完整的檢測(cè)報(bào)告，幫助制造商更有效地管理質(zhì)量控制。

高速自動(dòng)缺陷拍照功能確保在制程中能夠?qū)崟r(shí)偵測(cè)并記錄微小缺陷，保持生產(chǎn)質(zhì)量的持續(xù)高水平。BF+DF光源設(shè)計(jì)提升光學(xué)成像效果，有助于更準(zhǔn)確區(qū)分不同缺陷類型，并可檢測(cè)Minimize缺陷尺寸達(dá)到0.4微米(μm)確保微小缺陷不被忽略。

【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】

晶彩科技擁有超過(guò)24年的豐富光學(xué)檢量測(cè)經(jīng)驗(yàn)，深耕AOI領(lǐng)域多年，設(shè)備多年來(lái)獲得國(guó)內(nèi)外大廠的采用高度信賴。我們深諳AOI技術(shù)的四大核心領(lǐng)域：光學(xué)、檢測(cè)、軟件控制、機(jī)構(gòu)，并致力于以匠人之心打造每一臺(tái)AOI檢量測(cè)設(shè)備，為客戶提供可靠的設(shè)備與服務(wù)。

晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光電科技（上海）有限公司」，亦為晶彩科技在中國(guó)大陸地區(qū)，提供更全面的國(guó)際化服務(wù)。

【營(yíng)業(yè)據(jù)點(diǎn)】

晶彩科技總部位于臺(tái)灣地區(qū)新竹竹北，在臺(tái)中與臺(tái)南擁有辦公室。晶彩科技亦在上海設(shè)有分公司晶隼彩光電科技（上海）有限公司，專注處理設(shè)備進(jìn)出口、技術(shù)相關(guān)之其他設(shè)備服務(wù)事宜。

為提供中國(guó)地區(qū)的高效快速的服務(wù)，晶彩科技于上海、咸陽(yáng)、滁州、昆山、重慶、福建、武漢、浙江、廣州、長(zhǎng)沙、深圳等地設(shè)有服務(wù)據(jù)點(diǎn)，以實(shí)現(xiàn)全國(guó)范圍內(nèi)客戶的快速支持，打造全方位的AOI產(chǎn)業(yè)布局。

晶彩科技檢量測(cè)設(shè)備一覽

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