高低溫試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高、低溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。按工作狀態(tài)不同，分為高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、低溫貯存試驗(yàn)、高溫工作試驗(yàn)、低溫工作試驗(yàn)。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)高低溫環(huán)境的適應(yīng)性。

我司可按GB T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法及GJB 軍gong裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn).等標(biāo)準(zhǔn)要求，開展高低溫貯存試驗(yàn)、高低溫工作試驗(yàn)。可進(jìn)行常溫到-100℃試驗(yàn)，試驗(yàn)箱空間大為45立方米，可進(jìn)行常溫到+300℃試驗(yàn)，試驗(yàn)箱空間大為45立方米，滿足絕大多數(shù)軍gong裝備、汽車零件部，電子元器件的試驗(yàn)需求，為各類產(chǎn)品試驗(yàn)提供有力保障。是目前國內(nèi)僅有的幾家擁有270立方米步入式溫度試驗(yàn)箱的實(shí)驗(yàn)室之一，

用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。