電子異物分析質(zhì)量FTIR異物研究，表面異物、斑點(diǎn)異物、霉變異物、SEM分析、EDS分析、FTIR分析、深圳電子異物檢測(cè)質(zhì)量篩選分析試驗(yàn)室、各領(lǐng)域?qū)I(yè)工程師,自有實(shí)驗(yàn)室,儀器設(shè)備齊全!異物分析 選擇異物檢測(cè),檢測(cè)精度到ppb級(jí)別,售后技術(shù)支持有保障! 

快速判斷異物或雜質(zhì)的成分,分析產(chǎn)生原因,進(jìn)行整改提升產(chǎn)品良率,消除生產(chǎn)隱患,保障生產(chǎn)的穩(wěn)定性.異物分析，是專門分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，

異物分析通常是指針對(duì)產(chǎn)品上的外來不明物質(zhì)、表面污染、析出物等進(jìn)行分析的檢測(cè)技術(shù)。通過分析異物的成分，找到異物的來源，從而找到改善的方法。

異物分析的方法目前主要有主要有紅外光譜法(FTIR)和掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)，這兩種方法是分別針對(duì)不同的異物的。

  紅外光譜法

紅外光譜定性是根據(jù)紅外光譜官能團(tuán)的吸收峰來確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)（主要是有機(jī)化合物）。紅外譜圖縱坐標(biāo)表示吸光率（A）或透過率（T%），橫坐標(biāo)表示波數(shù)（cm-1），通過不同的官能團(tuán)在不同的波數(shù)段出峰以及峰形可以解析出物質(zhì)的結(jié)構(gòu)，從而得到化合物的種類。對(duì)于一些常見的化合物可以通過與譜庫中的譜圖進(jìn)行匹配從而得到成分組成。對(duì)于異常情況的分析，通常采用的是顯微紅外法。由于顯微鏡的作用，相對(duì)于普通紅外法，顯微紅外具有樣品量少、無損、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)。

2.      掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)

掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)是通過掃描電鏡/能譜儀（SEM/EDS）對(duì)異物或異常部位掃描，得到元素種類及其含量。通過掃描電鏡（SEM）可以觀察樣品各種凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)形貌，從能譜儀可以得到元素的種類及含量。

結(jié)束